高頻介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀

簡(jiǎn)要描述：ZJD-C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測(cè)試儀器，測(cè)試頻率上限達(dá)到目前國(guó)內(nèi)Z高的160MHz。

產(chǎn)品型號(hào)：
廠(chǎng)商性質(zhì)：生產(chǎn)廠(chǎng)家
更新時(shí)間：2025-02-08
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介電常數(shù)測(cè)試儀

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    ZJD-C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀儀器介紹

    ZJD-C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀是根據(jù)GB/T 1409《測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長(zhǎng)在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的試驗(yàn)方法》（等效采用IEC 60250）設(shè)計(jì)和制造的，并符合JB 7770等試驗(yàn)方法。它適用于在高頻（1MHz）下絕緣材料的測(cè)試。

    技術(shù)參數(shù)

    ZJD-C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測(cè)試儀器，測(cè)試頻率上限達(dá)到目前高的160MHz。 ZJD-C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀采用了多項(xiàng)技術(shù)：

    1 雙掃描技術(shù) - 測(cè)試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動(dòng)調(diào)諧搜索功能。

    2 雙測(cè)試要素輸入 - 測(cè)試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過(guò)數(shù)字按鍵輸入。

    3 雙數(shù)碼化調(diào)諧 - 數(shù)碼化頻率調(diào)諧，數(shù)碼化電容調(diào)諧。

    4 自動(dòng)化測(cè)量技術(shù) -對(duì)測(cè)試件實(shí)施 Q 值、諧振點(diǎn)頻率和電容的自動(dòng)測(cè)量。

    5 全參數(shù)液晶顯示 – 數(shù)字顯示主調(diào)電容、電感、 Q 值、信號(hào)源頻率、諧振指針。

    6 DDS 數(shù)字直接合成的信號(hào)源 -確保信源的高葆真，頻率的高精確、幅度的高穩(wěn)定。

    7 計(jì)算機(jī)自動(dòng)修正技術(shù)和測(cè)試回路*化 —使測(cè)試回路殘余電感減至zui低，** Q 讀數(shù)值在不同頻率時(shí)要加以修正的困惑。

    ZJD-C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀的創(chuàng)新設(shè)計(jì)，無(wú)疑為高頻元器件的阻抗測(cè)量提供了*的解決方案，它給從事高頻電子設(shè)計(jì)的工程師、科研人員、高校實(shí)驗(yàn)室和電子制造業(yè)提供了更為方便的檢測(cè)工具，測(cè)量值更為精確，測(cè)量效率更高。使用者能在儀器給出的任何頻率、任意點(diǎn)調(diào)諧電容值下檢測(cè)器件的品質(zhì)，無(wú)須關(guān)注量程和換算單位

    主要技術(shù)特性

Q 值測(cè)量范圍	2 ～ 1023 ,量程分檔： 30 、 100 、 300 、 1000,自動(dòng)換檔或手動(dòng)換檔
固有誤差	≤ 5 ％ ± 滿(mǎn)度值的 2 ％(200kHz ～ 10MHz ),≤6％ ± 滿(mǎn)度值的2％（10MHz～160MHz）
工作誤差	≤7％ ± 滿(mǎn)度值的2％( 200kHz ～ 10MHz),≤8％ ± 滿(mǎn)度值的2％（10MHz～160MHz）
電感測(cè)量范圍	4.5nH ～ 140mH
電容直接測(cè)量范圍	1 ～ 200pF
主電容調(diào)節(jié)范圍	18 ～ 220pF
主電容調(diào)節(jié)準(zhǔn)確度	120pF 以下 ± 1.2pF;120pF 以上 ± 1 ％
信號(hào)源頻率覆蓋范圍	100kHz ～ 160MHz
頻率分段(虛擬)	100 ～ 999.999kHz ,1 ～ 9.99999MHz,10 ～ 99.9999MHz,100 ～ 160MHz
頻率指示誤差	3 × 10 -5 ± 1 個(gè)字

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